錯(cuò)誤 / 顯示信息

原因

排除故障的方法

"---- " 
（無測量值）

–由于測量無效，所以不能計(jì)算結(jié)果。

啟動測量

– 用于計(jì)算結(jié)果的條件不滿足。

對 Rmr：  粗糙度深度 Rt ≤ 0.8 % 的測量范圍。

無排除故障的方法

對 R3z：  
在每個(gè)取樣長度里沒有 3 個(gè)波峰和 3 個(gè)波谷的zui小值。

如有必要，可以選擇更長的掃描長度

對 RzJ：  
在每個(gè)取樣長度里沒
有 5 個(gè)波峰和 5 個(gè)波谷的zui小值。

如有必要，可以選擇更長的掃描長度

對 RSm：  粗糙度輪廓的平均粗糙度 Ra ≤ 0.4 % 的測量范圍。

無排除故障的方法

對 R、Ar、Rx：  在評定波形時(shí)沒有產(chǎn)生粗糙度。

檢查算子 A 和 B 的設(shè)置。

對 Rpk、Rk、Rvk、Mr1、Mr2、A1、A2：

– 粗糙度深度 Rt ≤ 0.8 % 的測量范圍。

無排除故障的方法。

– 在中心輪廓范圍內(nèi)材料比分布少于 10 級。

無排除故障的方法。

– 材料比曲線不是 DIN EN ISO 13565-2 所要求的 S 形。

無排除故障的方法。

電池符號閃爍

電池電量已基本耗盡

為充電電池充電（大約 1 小時(shí)的充電時(shí)間就能使電池充滿）。

更換電池后儀器不能正常工作

電池沒有正確插入。

打開儀器，取出電池并按照電池重新插入電池

修正值 > ±15

計(jì)算得到的探頭修正值
超出 ± 15 % 的公差范圍。

– 檢查測量裝置。         – 檢查探頭。 
– 檢查探針針尖是否處于垂直位置。 
– 檢查 Rz 標(biāo)定值。     – 重新標(biāo)定。 
– 如有必要，將探頭送去檢查。

數(shù)據(jù)遺失 

開機(jī)后發(fā)現(xiàn)儀器設(shè)置已遺失。

選擇新的儀器設(shè)置。

超出下限 和▼符號

超出測量范圍下限；  測量被中斷；  不能進(jìn)行評定。

根據(jù)需要重新調(diào)整被測件或驅(qū)動單元。

存儲器錯(cuò)誤 或  系統(tǒng)錯(cuò)誤

內(nèi)部故障。

– 關(guān)閉然后重新打開儀器。   – 向左移動復(fù)位開關(guān)至 "0"位置再移回右側(cè)，重新打開儀器并重新選擇儀器設(shè)置。            – 如果系統(tǒng)錯(cuò)誤再次發(fā)生：將儀器送去修理，并說明出錯(cuò)前的操作步驟。

探頭？起動？

開機(jī)后，必須對探頭進(jìn)行確認(rèn)。

– 檢查安裝在驅(qū)動單元中的探頭型號是否與 MarSurf PS1 設(shè)置的探頭型號*。 
– 更換探頭后，也要檢查探頭的修正值是否正確。 
起動？ 
– 再次按下任意一個(gè)綠色 Start 鍵以啟動測量。

數(shù)據(jù)內(nèi)存空白

由于結(jié)果自動存儲功能未存儲任何結(jié)果，因此數(shù)據(jù)內(nèi)存為空白。

打開結(jié)果存儲并執(zhí)行測量。

數(shù)據(jù)內(nèi)存已滿

數(shù)據(jù)內(nèi)存已滿，不能再存儲其它的測量結(jié)果。存儲自動中斷（"存儲 中斷"）但儀器設(shè)置仍處于屏蔽狀態(tài)。

– 要不存儲結(jié)果繼續(xù)進(jìn)行測量：可關(guān)閉屏蔽設(shè)置以便修改測量條件。 
– 要存儲新的結(jié)果：將已存儲結(jié)果另存為結(jié)果文件并通過 USB 接口進(jìn)行傳輸，選擇 " 存儲 繼續(xù) " 并刪除數(shù)據(jù)內(nèi)存。

設(shè)置已屏蔽

儀器設(shè)置不能更改，這是由于 
 – 屏蔽設(shè)置已打開或  

– 結(jié)果存儲已打開。

– 要更改設(shè)置，請關(guān)閉 "基本設(shè)置" 子目錄中的屏蔽設(shè)置。   – 如有必要，在 " 結(jié)果 " 子目錄中關(guān)閉存儲結(jié)果。

啟動測量！

由于測量無效（例如，zui后一次測量后測量條件發(fā)生改變），不能執(zhí)行所需的功能（如存儲輪廓）

啟動測量。

超出上限 和
符號 

超出測量范圍的上限； 測量被中斷；  不能進(jìn)行評定。

根據(jù)需要重新調(diào)整被測件或驅(qū)動單元。